自动化小批量半导体晶圆检测系统以提升产能和效率
自动化小批量半导体晶圆检测系统有望显著提升产能和效率。实施自动化能让晶圆的小批量检测过程更加高效和精简，从而缩短检测周期，并提升半导体制造工厂的生产力。
一家全球知名科技公司在研发更高分辨率的3D光场显示器产品时遭遇挑战，亟需一种更高效的方法来检测更小批量的半导体晶圆。为此，其向Prior Scientific寻求帮助，双方联合开发了一套经济高效且可靠的解决方案。
大规模量产晶圆制造厂通常采用大型晶圆检测系统。在本案例中，该公司希望开发一套能够每天精准高效检测多达100片晶圆的系统。
最终解决方案结合了尼康 (Nikon) 的晶圆检测自动送片器和Prior Scientific的ProScan HWL6NWL200晶圆加载和卸载平台，以确保可靠加载晶圆并完成XY平面检测。为实现电动对焦，系统还集成了Prior Scientific的PS3H122R聚焦驱动器。
此外，该系统的落射式照明中还集成了HH563KT1六位电动滤光炮塔，使得检测过程中可无缝切换不同的照明方式。检测过程采用了明场与荧光照明技术，以全面分析晶圆的所有缺陷。
为获取可进行详细分析的高质量图像，系统搭载了尼康NIS Elements图像采集与分析软件，方便经过培训的技术人员轻松全面检测晶圆表面。通过有机整合上述组件，该系统为全球科技企业巨头提供了性能可靠且具有成本效益的解决方案。
